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Tratado de topografía tomo II. Métodos topográficos

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Se ocupa de los Métodos Topográficos, tanto en Altimetría como en Planimetría, que conducen a la obtención del apoyo fotogramétrico o levantamiento directo de un plano de cualquier extensión, precisión y escala. Aplicando la Teoría de Errores desarrollada en el... Leer más

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Categoría:

Información adicional

Dimensiones 19,0 × 26,0 cm
Paginas

760

Editorial

Paraninfo

Idioma

Español

Encuadernación

03

ISBN

9788428323093

Año de edicion

1996

Fecha de lanzamiento

121996

Autor